Δωρεές 15 Σεπτεμβρίου 2024 – 1 Οκτωβρίου 2024 Σχετικά με συγκέντρωση χρημάτων

Практика микрозондовых методов исследования металлов и...

Main
Практика микрозондовых методов...

Практика микрозондовых методов исследования металлов и сплавов.

Кальнер В.Д., Зильберман А.Г.

0 / 0

Πόσο σας άρεσε αυτό το βιβλίο;

Ποια είναι η ποιότητα του ληφθέντος αρχείου;

Κατεβάστε το βιβλίο για να αξιολογήσετε την ποιότητά του

Ποια είναι η ποιότητα των ληφθέντων αρχείων;

Έτος:

1981

Γλώσσα:

russian

Σελίδες:

215

Αρχείο:

DJVU, 5.90 MB

IPFS:

,

russian, 1981

Διαβάστε online

Η μετατροπή σε βρίσκεται σε εξέλιξη

Η μετατροπή σε απέτυχε

Ίσως σας ενδιαφέρει

Папко, Людмила Федоровна — Физико-химические методы исследования неорганических веществ и материалов

Пашкеев, И. Ю. (авт.) — Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ

Зеер Галина Михайловна — Методы структурного анализа и контроль качества изделий : учебно-методическое пособие

Бычков Петр Степанович, — Физико-химические методы исследования. Методические указания к лабораторным работам : учебно-методическое пособие

коллектив авторов. — Локальные методы анализа материалов

коллектив авторов. — Электронно-зондовый микроанализ

Черноруков Н. Г., Нипрук О. В. — Теория и практика рентгенофлуоресцентного анализа: Электронное учебно-методическое пособие

Ищенко А. А., Лукьяно А. Е. — Методы анализа поверхности. Часть 1. Методы локального анализа иэлектронная микроскопия: Учебное пособие

Осипов В.И. и др. — Микроструктура глинистых пород

Скотт В. (ред) — Количественный электронно-зондовый микроанализ

Лосев Н.Ф., Смагунова А.Н. — Основы рентгено-спектрального флуоресцентного анализа

Богданова И.В., Егоров Г.Б. — Оперативный контроль качества материалов цементного производства

Тренева Н.В., Тренева М.А. — Электронно-зондовый макроанализ неоднородных поверхностей (в свете теории распознавания образов).

Малви Т. — Количественный электронно-зондовый микроанализ.

Герасимова Л.П. — Изломы конструкционных сталей.

Васичев Б.Н. — Электрнно-зондовый микроанализ тонких пленок.

— МЕТОДЫ И ОБОРУДОВАНИЕ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ ПРОИЗВОДСТВА НАНОГЕТЕРОСТРУКТУР И НАНОГЕТЕРОСТРУКТУРНЫХ МОНОЛИТНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ

Панкратьев П. В. — Лабораторные методы исследования минерального сырья. Физико-химические методы исследования

Ю.А. Юраков — Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии

Г. М. Зеер — Новые конструкционные материалы : учеб.-метод. пособие для практич. занятий

Кулаков Ю. А. — Электронная микроскопия

Комиссаренков А.А. — Рентгенофлуоресцентный метод анализа

Смирнов С.В. — Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем

Черноруков Н.Г., Нипрук О.В. — Теория и практика рентгенофлуоресцентного анализа

Смирнов С.В. — Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем

Николичев Д.Е., Боряков А.В. — Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии

Батаев А.А., Батаев В.А. и др. — Физические методы контроля качества материалов

Удовиченко С.Ю. — Пучково-плазменные технологии для создания материалов и устройств микро - и наноэлектроники. Часть 2-я

Сибирцев В.С. — Экспериментальные методы исследования физико-химических систем. Часть 2. Атомная спектроскопия

Углов В.В., Черенда Н.Н., Анищик В.М. — Методы анализа элементного состава поверхностных слоев

Биркс Л.С. — Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда

Заболеев-Зотов В.В. — Современные способы исследования металлов

Панкратьев П. В. — Лабораторные методы исследования минерального сырья. Физико-химические методы исследования

сост. : Г. Н. Чурилов, Н. Г. Внукова. — Методы анализа структуры и свойства материалов

Коллектив авторов — Рентгенография и электронная микроскопия

Φράσεις κλειδιά

элементов

поверхности

электронов

интенсивности

излучения

элемента

изображения

значения

значительно

исследования

образцов

разрушения

позволяет

электронах

вторичных

включений

изображение

интенсивность

структуры

определения

качестве

получения

распределения

детектора

наиболее

содержание

содержания

характеристического

включения

отраженных

разрешение

травления